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[●表面扫描法辐射抗扰度]

表面扫描法辐射抗扰度

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表面扫描法是一种评估近场、磁场或电磁场元件对集成电路（IC）影响的方法。该方法可用于IC架构分析，如层级规划和配电优化。本方法适用于测试扫描探针可接触到的IC。在某些情况下，表面扫描法不仅可以扫描IC，还可以扫描其环境（如PCB）。
[●IC带状线法辐射抗扰度]

IC带状线法辐射抗扰度

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IC带状线法不仅可以用于集成电路辐射发射的测量,也可以用于集成电路 RF 辐射抗扰度的测量，测量的频率范围为 150KHz到3GHz。
[●GTEM小室法辐射抗扰度]

GTEM小室法辐射抗扰度

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通过在GTEM 小室的注入射频能量，以在小室内产生要求的电场强度，以此来评估集成电路在辐射电场环境下的敏感度。
[●GTEM小室法辐射发射测试]

GTEM小室法辐射发射测试

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GTEM小室可以等效为截面渐变的阻抗为50Ω的同轴线。它的一端与50Ω同轴线连接，另一端接均匀分布的匹配负载，包括锥形吸波材料和芯板末端用于阻抗匹配的电阻。GTEM小室的外形为四棱锥形，侧面安装屏蔽门，锥顶处为50Ω同轴转换头，同轴接头内导体向锥底部膨大成三角形金属板，终端进行阻抗匹配，并铺设微波吸波材料。内导体向顶部倾斜，以留给被测件更大的空间。小室的密闭性很重要，任何缝隙或泄露都可能影响
[●非同步瞬态注入法传导抗扰度]

非同步瞬态注入法传导抗扰度

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与受试器件（DUT）运行不同步的骚扰通过耦合网络施加给IC引脚。
[●同步瞬态注入法传导抗扰度]

同步瞬态注入法传导抗扰度

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电瞬态是电气和电子装置电磁环境的常见组成部分之一。